Porosity and Thickness Characterization of Porous Si and Oxidized Porous Si layers – an ultraviolet-visible-mid Infrared Ellipsometry Study
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : lundi 6 janvier 2025-21:15:03
Dernière modification le : lundi 13 janvier 2025-16:49:16